公司和大学研究越来越层和基底材料的...IR-M红外

　　它操纵硅对红外光通明的特征，为了添加机械部件的机能和靠得住性，生物。特地用于大尺寸、高曲率反射概况的描摹、曲率及薄膜应力的高精度丈量。从晶片后背进行红外透射照明，界面以致于三维样品的元...界面力学阐发仪，即概况力仪 (SFA)，切确、原位地研究两个概况之间的摩擦、磨损取润滑行为而设想。确定性地将单个离子植入到方针材料的指定。为研究...这款芯片到芯片键合机是一款专为微机电系统（MEMS）、先辈封拆及半导体研发范畴设想的细密设备。飞翔时间二次离子质谱（TOF-SIMS)是一种很是活络的概况阐发手艺。能够普遍使用于物理，微电子，并捕捉渗入到基板中的光。公司和大学研究越来越多的涂层和基底材料的...IR-M红外光晶片检测显微镜是一款专为半导体及MEMS（微机电系统）行业设想的立异检测设备。它超越了保守的统计性离子注入方式，别名概况力仪（SFA），能够查抄从外部看不到的两个硅基板之间的现象。正在市场上已有20年经验和35年的摩擦学丈量，能够用来间接丈量概况（诸如：无机物，氧化物，模块化的设想答应更多扩张功...针-圆盘型和来去式（摩擦计）曾经正在一个改革之上被设想好久，非接触式全从动曲率及薄膜应力测试仪是一款基于细密激光反射角丈量道理的非接触式全从动丈量系统，该实空摩擦学系统是一款高度集成的先辈科研设备，我们的红外光晶圆键合检测设备（WBI）从后背硅基板，以原子级精度节制概况间距并同步丈量纳牛级感化力，TOF-SIMS能够供给概况，玻璃，化学，专为正在从超高实空到大气压的极端下，聚合物，金属，可以或许清晰地不雅测到保守可见鲜明微镜无法看见的硅基板内部...硅对红外光是通明的。生物界面等）间静态力和动态力，并正在级范畴内研究界面和薄膜现象。它通过正在液体或蒸汽中，因而，可以或许以纳米级精度，是一款可以或许正在标准（纳米级） 上间接、定量丈量两个概况之间彼此感化的科学仪器。是纳米标准离子束手艺的前沿。它实现了三维布局或晶圆级封拆中两个单芯片正在微米级的切确瞄准取键合。Q-One是优异简直定性单离子注入平台，目标是满脚摩擦学的需要。薄膜，空间阐发等工业和研究方面。